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阻抗分析仪IM3570元器件测量仪器(电感、电容、电阻测量)

1台仪器实现不同测量条件下的高速检查 

?1台仪器实现LCR测量、DCR测量、扫描测量等的连续测量和高速检查 

?LCR模式下较快1.5ms(1kHz),0.5ms(100kHz)的高速测量 

?基本精度±0.08%的高精度测量 

?适用于压电元件的共振特性检查、功能性高分子电容的C-D和低ESR测量,电感器(线圈、变压器)的DCR和L-Q的测量 

?分析仪模式下可进行扫频测量、电平扫描测量、时间间隔测量

 主机不标配治具。请根据您的需求选择选件中的治具和探头。