1台仪器实现不同测量条件下的高速检查
● 1台仪器实现LCR测量、DCR测量、扫描测量等的连续测量和高速检查
● LCR模式下 快1.5ms(1kHz),0.5ms(100kHz)的高速测量
● 基本精度±0.08%的高精度测量
● 适用于压电元件的共振特性检查、功能性高分子电容的C-D和低ESR测量,电感器(线圈、变压器)的DCR和L-Q的测量
● 分析仪模式下可进行扫频测量、电平扫描测量、时间间隔测量
● 可以用于无线充电评价系统TS2400
阻抗分析仪IM3570测量方式:压电元件的共振特性的测量
LCR测试仪和阻抗分析仪合二为一的IM3570通过扫频测量和峰值比较器功能对共振状态进行合格判定,并在LCR模式想能通过1kHz或120Hz的LCR测量进行检查。扫频测量和LCR测量一台仪器全部实现。
基本参数
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测量模式 |
LCR(LCR测量),分析仪(扫描测量),连续测量 |
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测量参数 |
Z、Y、θ、Rs(ESR)、Rp、Rdc(直流电阻)、X、G、B、Cs、Cp、Ls、Lp、D(tanδ)、Q |
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测量量程 |
100mΩ~100MΩ,12档量程(所有参数由Z确定) |
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显示范围 |
Z、Y、Rs、Rp、Rdc、X、G、B、Ls、Lp、Cs、Cp:±(0.000000[单位]~9.999999G[单位],仅Z和Y显示值 |
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基本精度 |
Z:±0.08%rdg. θ:±0.05° |
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测量频率 |
4Hz~5MHz(10mHz~100Hz步进) |
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测量信号电平 |
V模式,CV模式(普通模式) |
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输出阻抗 |
普通模式:100Ω,低阻抗高精度模式:10Ω |
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显示 |
彩色TFT5.7英寸,可设置显示ON/OFF |
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测量时间 |
0.5ms(100kHz,FAST,显示OFF,代表值) |
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测量速度 |
FAST/MED/SLOW/SLOW2 |
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其他功能 |
DC偏压测量,比较功能,面板读取和保存,存储功能 |
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接口 |
EXT I/O,RS-232C,GP-IB,USB通讯,U盘,LAN |
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电源 |
AC90~264V,50/60Hz,150VA |
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打印 |
拷贝测量值或屏幕显示的要点(需用9442,9593-01和9446) |
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接口 |
GP-IB,RS-232C,EXT.I/O(所有标准) |
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电源 |
AC90~264V,50/60Hz,150VA |
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体积和重量 |
330W×119H×307Dmm,5.8kg |
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附件 |
电源线×1,使用说明书×1,通讯手册×1 |
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